ROHS儀器大多基于X射線熒光光譜(XRF)技術(shù)?實(shí)現(xiàn)有害物質(zhì)檢測(cè)，其原理與技術(shù)的核心在于通過“激發(fā)-發(fā)射-分析”的過程，精準(zhǔn)識(shí)別材料中的元素組成及含量。
XRF技術(shù)的基本原理：當(dāng)高能X射線(由儀器內(nèi)的X射線管或放射性同位素源產(chǎn)生)照射到樣品表面時(shí)，樣品中的原子內(nèi)層電子(如K層、L層)會(huì)被擊出，形成空穴。此時(shí)，外層電子(如L層、M層)會(huì)躍遷至內(nèi)層填補(bǔ)空穴，同時(shí)釋放出具有特定能量的特征X射線(即熒光X射線)。每種元素的特征X射線能量是僅有的(如鉛的Kα線約72.8keV，鎘的Kα線約23.1keV)，通過檢測(cè)這些熒光的能量與強(qiáng)度，即可判斷樣品中存在哪些元素及其相對(duì)含量。
ROHS儀器的關(guān)鍵技術(shù)實(shí)現(xiàn)：
激發(fā)源：主流設(shè)備采用X射線管(如銠靶、鎢靶)，通過調(diào)節(jié)管電壓(通常5-50kV)和電流(1-100mA)，產(chǎn)生不同能量的初級(jí)X射線，以適應(yīng)輕元素(如鈉、鎂)和重元素(如鉛、汞)的激發(fā)需求。部分便攜式設(shè)備使用放射性同位素源(如銀-109、鎘-109)，但能量固定，靈活性較低。
探測(cè)器：分為比例計(jì)數(shù)器(用于輕元素)和硅漂移探測(cè)器(SDD)/半導(dǎo)體探測(cè)器(用于重元素)。SDD是目前高端儀器的標(biāo)配，具有高分辨率(可區(qū)分相鄰元素能量差僅0.1keV)、快響應(yīng)速度(適合短時(shí)間檢測(cè))的特點(diǎn)，能精準(zhǔn)識(shí)別鉛、鎘、汞等限值極低的元素。
數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)：儀器內(nèi)置的軟件會(huì)將探測(cè)器接收的熒光信號(hào)轉(zhuǎn)換為能量-強(qiáng)度譜圖，通過算法匹配已知元素的特征峰位置(如鉛的Kα峰在72.8keV處)，并結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)曲線計(jì)算具體含量(如ppm級(jí)精度)。
技術(shù)的優(yōu)勢(shì)與局限：XRF技術(shù)的較大優(yōu)勢(shì)是非破壞性(樣品無需溶解或破壞)、快速(單次檢測(cè)僅需幾十秒至幾分鐘)、多元素同步分析(可同時(shí)檢測(cè)數(shù)十種元素)。但其局限性在于對(duì)超輕元素(如氫、氦)不敏感，且對(duì)表面涂層較厚的樣品(如噴漆金屬)需通過打磨去除表層干擾。
理解XRF技術(shù)的原理與儀器實(shí)現(xiàn)方式，有助于用戶根據(jù)檢測(cè)需求(如元素范圍、精度要求)選擇合適的ROHS儀器，并通過規(guī)范操作充分發(fā)揮其檢測(cè)效能。
